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4.10.1 目的
    檢驗(yàn)探測(cè)器耐受高溫的能力（A1、A2和B類(lèi)探測(cè)器不進(jìn)行此項(xiàng)試驗(yàn)）。
4.10.2 方法
4.10.2.1 將試樣放入表6所示溫度的試驗(yàn)箱內(nèi)持續(xù)21d 。高溫環(huán)境期間試樣不通電。
4.10.2.2 將試樣由試驗(yàn)箱中取出，在正常大氣條件下恢復(fù)1h以上，按4.1.2規(guī)定連接，并接通電源，觀察并記錄試樣狀態(tài)。若試樣能處于正常監(jiān)視狀態(tài)，按4.1.5規(guī)定，分別以3℃/min和20℃/min的升溫速率升溫至試樣動(dòng)作。記錄試樣在各升溫速率下的響應(yīng)時(shí)間。
4.10.3 要求
    a) 高溫環(huán)境后，接通電源和監(jiān)視設(shè)備，試樣不應(yīng)發(fā)出故障信號(hào)；
    b) 可復(fù)位探測(cè)器試樣對(duì)3℃/min升溫速率的響應(yīng)時(shí)間不應(yīng)小于7min 13s ，且與環(huán)境試驗(yàn)前響應(yīng)時(shí)間相比變化不應(yīng)超過(guò)2min 40s；對(duì)20℃/min升溫速率的響應(yīng)時(shí)間不應(yīng)小于1min 0s，且與環(huán)境試驗(yàn)前響應(yīng)時(shí)間相比變化不應(yīng)超過(guò)30s；
    c) 不可復(fù)位探測(cè)器試樣的響應(yīng)時(shí)間應(yīng)符合表4 規(guī)定。
表6 高溫（耐久）試驗(yàn)條件